CIRIC-CAI-JEOL分析機器講習会のお知らせ
研究開発の強力なツールである走査電子顕微鏡(SEM)について、装置の説明、観察前の試料処理、観察例等を日本電子(株)の担当者から説明いたします。対象は、電子顕微鏡をこれから使ってみようとする方、使い始めて間もない方で、企業の皆さん、学生の皆さん、どなたでも参加いただけます。午後の質疑応答コーナーでは、不明点や疑問点も解決できます。
開催日時：2022年5月12日（木）10:00〜16:30
場所：千葉大学 千葉ヨウ素資源イノベーションセンター 1階講義室
受講料：無料
定員：各先着30名※午前のみ・午後のみ・見学会のみの受講も可能です。
講師：日本電子株式会社 SI 営業本部 SI 販促室 川内 一晃 様
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発表言語：日本語
同時通訳：無
事前登録：要
参加申込は、チラシ掲載のQRコード、または以下の申込先よりお申し込みください。
申込・問合せ先：〒263-8522 千葉市稲毛区弥生町1-33 千葉大学
千葉ヨウ素資源イノベーションセンター（CIRIC）事務室
https://forms.gle/RScXSNfwkkn12yYL8
E-mail: ciric-network@chiba-u.jp
TEL・FAX:043-290-2883